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岩本 幸治*; 楠崎 亮*; 十河 基介*; 保田 和則*; 山野 秀将; 田中 正暁
Proceedings of ASME-JSME-KSME Joint Fluids Engineering Conference 2015 (AJK 2015-FED) (USB Flash Drive), p.1767 - 1773, 2015/07
軸方向曲率半径が内径(125mm)と等しくなる90
エルボに対して壁面圧力計測と流動場可視化を実施した。本研究では、ほぼ一定な速度傾斜をもつ偏流を導入した。レイノルズ数320,000および500,000の場合、規格化した圧力分布で比較すれば、全体的には差異は見られないことがわかった。入口一様流入の場合と比較し、偏流の場合はエルボ腹側の低圧領域は弱められ外側高圧領域は強まることが明らかにされた。本研究の場合、エルボ下流の圧力がエルボ出口から直径の2倍の距離までの範囲の内側で圧力が高くなるという圧力分布が特徴的であった。流動場の可視化により背側から移流される強い2次流れの衝突によって圧力上昇が引き起こされていると結論づけられた。本研究における非定常圧力分布は、一様流の場合と比べると、エルボ内部および下流において変動の激しい領域が周方向に減少したことを示した。
小泉 徳潔; 安藤 俊就; 高橋 良和; 辻 博史; 島本 進*
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 11(1), p.2575 - 2578, 2001/03
被引用回数：2 パーセンタイル：23.34(Engineering, Electrical & Electronic)電流偏流のために過大な電流を流している超電導性が、常電導転移した後の挙動について解析した。計算で用いたパラメータは、電流偏流による不安定性を示したUS-DPCコイルのそれらを用いた。解析の結果、100m程度の長さを有する導体では、常電導転移後数秒間は、端部の影響がないことがわかった。これは、無限長のモデルを使用できることを示している。無限長モデルでは、電流の計算がより簡易になる。そこで、無限長モデルを、クエンチ・シミュレーションコードとあわせて使用して、解析を行った。解析の結果、常電導伝播が電流減衰に大きな影響を与えることがわかった。また、素線間のコンダクタンスが高い場合に導体は安定になるが、この場合でも、導体としての安定性が低くなければ、電流偏流によってクエンチが起こることが示唆された。
小泉 徳潔; 高橋 良和; 加藤 崇; 辻 博史; 島本 進*
低温工学, 35(3), p.132 - 142, 2000/03
素線間にクロムメッキ等による高抵抗層を有する導体には、循環電流が誘起される。これと通電電流が重なり合って電流偏流が発生する。この循環電流の特性を解析した。その結果、素線間を横断して誘起される素線間横断型循環電流と端部を迂回するそれがあることがわかった。前者の減衰時定数は、数秒のオーダーである。このために、10s以内のパルス励磁でこの循環電流は誘起される。そして、励磁速度が速いほど大きくなる。この循環電流のために、素線をクロムメッキした導体が、励磁速度依存型の不安定現象を示す。
